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AB分析天平

簡要描述:AB分析天平
精確、操作簡便、性能可靠、經久耐用——這是對梅特勒-托利多AB經典系列天平Z恰當的評價。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2023-03-16
  • 訪  問  量:1465

詳細介紹

AB經典系列電子分析天平

精確、操作簡便、性能可靠、經久耐用——這是對梅特勒-托利多AB經典系列天平zui恰當的評價。

 采用單模塊傳感器技術,具有緊湊而堅固的結構和良好抗過載、抗沖擊性能

 采用溫度漂移及時間設置觸發的全自動校準技術(FACT),有效消除環境溫度變化對稱量結果精確性的影響

 采用亮背景液晶顯示屏,方便用戶在不同稱量環境下讀取稱量結果  

 金屬鑄鋁制成的防化防撞擊機架,保證天平的長期使用

 標配機架塑料保護罩,實現天平的快速清潔 

 可拆卸防風罩設計,避免散料樣品的腐蝕

 內置RS232通訊接口,方便連接打印機、電腦等外圍設備

 具有簡單稱量、百分比稱量、計件稱量和動態稱量等內置應用程序

技術參數:

 

型  號

    AB135-S/FACT

AB265-S/FACT

AB54-S/FACT

AB204-S/FACT

AB204-S/FACT

型  號

       AB135-S

       AB265-S

       AB54-S

         AB104-S

         AB204-S

型  號

         

        

 

         AB104-L

         AB204-L

可讀性mg

         0.01/0.1

        0.01/0.1

            0.1

             0.1

             0.1

zui大稱量值g

         31/120

        61/220

           51

             110

             220

重復性(s)mg

         0.03/0.1

        0.03/0.1

           0.1

             0.1

             0.1

線性誤差mg

             0.2

           0.2

           0.2

             0.2

             0.2

稱盤尺寸(mm)

            ¢80

          ¢80

          ¢80

            ¢80

            ¢80

防風罩有效高度(mm)

              237

           237

           237

             237

             237

外形尺寸(W×D×H)

                                                          245×321×344mm

AB-L:外置砝碼校準(需選購);

AB-S:內置砝碼校準;

AB-IC:內置砝碼校準;

AB-S/FACT:采用溫度漂移及時間設置觸發的全自動校準技術(FACT)。

(1)精細量程內10 g樣品典型重復性:0.02mg ;              (2)精細量程內10 g樣品典型線性:0.03mg

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